典型应用

各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：

分立和无源元件

– 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻

– 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等

简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器

集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI） – 模拟IC

– 射频集成电路（RFIC）

– 专用集成电路（ASIC）

– 片上系统（SOC）器件

光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器

圆片级可靠性

– NBTI、TDDB、HCI、电迁移

太阳能电池

电池

更多…

一、 通用设置

1. NPLC 2. 接线方式（2、4线制） 3. 自动调零 4. 滤波

二、 单阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Single）

三、 单阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Single）

四、 多阶恒流输出测量（BiasIMeasureV-Steps）

五、 多阶恒压输出测量（BiasVMeasureI-Steps）

六、 分段电流扫描（SweepIMeasureV-Section）

七、 分段电压扫描（SweepVMeasureI-Section）

八、 连续电流扫描测量（SweepIMeasureV-Continuity）

九、 连续电压扫描测量（SweepVMeasureI-Continuity）

十、 双通道电流同步扫描（Dual-SweepIMeasureV）

十一、 双通道电压同步扫描（Dual-SweepVMeasureI）

十二、 波形输出-正弦波（Wave-Sine）

十三、 波形输出-方波（Wave-Square）

十四、 电化学-循环伏安（Cyclic voltammetry）测量

十五、 电化学-多电流跃阶测量（Multi-Current Steps）

十六、 电化学-多电位跃阶测量（Multi-Potenital Steps）

十七、 太阳能电池IV特性测量（Solar Cell IV）

十八、 双通道恒流恒压测量（Dual Channel IV）-

十九、 直流FET-转移曲线测量（DC-FET-Transfer）

二十、 直流FET-输出曲线测量（DC-FET-Output）

二十一、 脉冲FET-转移曲线测量（Pulse-FET-Transfer）

二十二、 脉冲FET-输出曲线测量（Pulse-FET-Output）

二十三、 直流FET栅极方波曲线测量（DC- FET- Gate- Square Wave）

二十四、 流FET漏极方波曲线测量（DC- FET- Drain- Square Wave）